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熱釋電測試系統(tǒng)

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PCTS-3000H高低溫熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)

更新時間：2024-11-13

型號：PCTS-3000H

瀏覽量：858

PCTS-3000H高低溫熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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PCTS-2000E偏置電場下熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)

更新時間：2024-11-13

型號：PCTS-2000E

瀏覽量：922

PCTS-2000E偏置電場下熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法，在熱釋電材料兩端施加直流偏場的條件下，測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到場致熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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PCTS-2000H高溫熱釋電測試系統(tǒng)

更新時間：2024-11-13

型號：PCTS-2000H

瀏覽量：1208

PCTS-2000H高溫熱釋電測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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PCTS-3000E中低溫偏置電場下熱釋電測試系統(tǒng)

更新時間：2024-11-13

型號：PCTS-3000E

瀏覽量：1074

PCTS-3000E中低溫偏置電場下熱釋電測試系統(tǒng)采用直接測量法，在熱釋電材料兩端施加直流偏場的條件下，測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到場致熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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PCTS-2000熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)

更新時間：2024-11-13

型號：PCTS-2000

瀏覽量：3209

PCTS-2000熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數(shù)。
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PCTS-3000中低溫熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)

更新時間：2024-11-13

型號：PCTS-3000

瀏覽量：2056

PCTS-3000中低溫熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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